Lombardi 表面迁移率

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表面声学声子和表面粗糙度对载流子迁移率具有重要影响,尤其是在 MOSFET 栅极下的薄反转层中。Lombardi 表面迁移率模型使用 Matthiessen 定则将这些影响产生的表面散射添加到现有的迁移率模型。

此模型演示如何使用 Lombardi 表面迁移率模型来计算简单 MOSFET 中的电子迁移率,将流入终端的电流密度分布和总电流与迁移率恒定的情况进行比较。

案例中展示的此类问题通常可通过以下产品建模: