化学机械抛光 (CMP) 设备中的流场与磨粒运动仿真

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化学机械抛光 (CMP) 是一种关键的表面平坦化工艺,广泛应用于半导体制造和光学器件加工领域。

本模型耦合分析了 CMP 设备在抛光过程中,保持环内部的流场及研磨颗粒的运动。其中,抛光头的转动使用了冻结转子方法。

案例中展示的此类问题通常可通过以下产品建模: