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12英寸电子级直拉单晶硅氧含量的数值模拟研究
发布日期 2024
随着大规模集成电路的发展，大尺寸电子级直拉单晶硅的需求与日俱增，而硅片尺寸增大的同时，氧相关缺陷带来的问题更加凸显。硅片中的氧相关缺陷有利有弊，因此直拉法生长单晶硅中的氧含量控制十分重要。本文基于COMSOL Multiphysics对12英寸电子级直拉单晶硅生长过程进行数值模拟分析，研究直拉单晶硅在不同凝固阶段下，晶体与熔体中氧浓度的变化，并计算出不同凝固阶段下氧在晶体和熔体两相中的浓度分布。通过考虑水冷屏，增加固液界面处的温度梯度，进而根据Voronkov理论计算出晶体中微缺陷区与“完美晶体区”。基于该模型，比较不同直径的坩埚对生长12寸直拉单晶硅的影响。结果表明，坩埚直径越大，自由液面处的氧挥发越多，进入晶体的氧越少。通过比较k-ε和k-ω两种湍流模型下固液界面处的氧含量变化，证明了k-ω模型氧含量更低。
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- 唐安辰 - 12英寸电子级直拉单晶硅氧含量的数值模拟研究.pdf - 1.89MB