IGBT 模块在高加速应力试验 (HAST) 条件下的应力分析

Application ID: 124191


高加速应力试验 (HAST) 是一种在高温高湿环境下加速电子设备故障的测试技术。本模型演示了在 HAST 测试条件下对塑封 IGBT 模块进行的结构分析,研究了热应力、吸湿膨胀以及水分输送等因素。

所采用的测试条件基于 JESD22-A110 标准

案例中展示的此类问题通常可通过以下产品建模: