肖特基接触
Application ID: 16367
本案例模拟了由沉积在硅晶片上的钨触点制成的理想 Schottky 势垒二极管，案例中将计算所得的正向偏压下的 J-V（电流密度 vs. 外加电压）曲线与文献中的实验测量结果进行了比较。
案例中展示的此类问题通常可通过以下产品建模:
您可能需要以下相关模块才能创建并运行这个模型，包括：
建模所需的 COMSOL® 产品组合取决于多种因素，包括边界条件、材料属性、物理场接口及零件库，等等。不同模块可能具有相同的特定功能，详情可以查阅技术规格表，推荐您通过免费的试用许可证来确定满足您的建模需求的正确产品组合。如有任何疑问，欢迎咨询 COMSOL 销售和技术支持团队，我们会为您提供满意的答复。